摘要
本发明公开了石英石表面缺陷检测方法、系统及设备,涉及图像处理技术领域,包括将待检测石英石固定于检测平台,并进行预处理;构建双路偏振成像光路;基于石英石光学各向异性特性进行偏振参数优化,使缺陷区域与正常区域产生偏振态差异;在偏振参数优化条件下,通过双路偏振成像光路同步采集第一偏振图像和第二偏振图像;对第一偏振图像和第二偏振图像进行偏振差分计算,生成偏振差分图像;对偏振差分图像进行对比度增强处理,识别缺陷区域并进行缺陷分类,输出石英石表面缺陷检测结果。本发明通过优化偏振成像参数配置,结合图像处理,实现了石英石表面缺陷的高精度检测和智能分类,提高了检测的自动化水平和可靠性。
技术关键词
表面缺陷检测方法
石英石
偏振分析器
对比度
图像传感器
识别缺陷
成像
参数
偏振光源
双分支卷积神经网络
折射率差异
检测平台
表面缺陷检测系统
直方图均衡化算法
支持向量机分类器
偏振态
通道注意力机制
阈值分割算法
系统为您推荐了相关专利信息
键合方法
半导体结构
介质
光电二极管阵列
背照式图像传感器
电子后视镜
图像转换模块
显示输出接口
图像处理模块
数据转换模块
生态培养装置
全自动智能
LED补光灯
光谱传感器
光照强度传感器
防水板铺挂
路径识别方法
信息熵
机器人运动路径
机器人导航控制