石英石表面缺陷检测方法、系统及设备

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石英石表面缺陷检测方法、系统及设备
申请号:CN202510903023
申请日期:2025-07-01
公开号:CN120404749B
公开日期:2025-09-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了石英石表面缺陷检测方法、系统及设备,涉及图像处理技术领域,包括将待检测石英石固定于检测平台,并进行预处理;构建双路偏振成像光路;基于石英石光学各向异性特性进行偏振参数优化,使缺陷区域与正常区域产生偏振态差异;在偏振参数优化条件下,通过双路偏振成像光路同步采集第一偏振图像和第二偏振图像;对第一偏振图像和第二偏振图像进行偏振差分计算,生成偏振差分图像;对偏振差分图像进行对比度增强处理,识别缺陷区域并进行缺陷分类,输出石英石表面缺陷检测结果。本发明通过优化偏振成像参数配置,结合图像处理,实现了石英石表面缺陷的高精度检测和智能分类,提高了检测的自动化水平和可靠性。
技术关键词
表面缺陷检测方法 石英石 偏振分析器 对比度 图像传感器 识别缺陷 成像 参数 偏振光源 双分支卷积神经网络 折射率差异 检测平台 表面缺陷检测系统 直方图均衡化算法 支持向量机分类器 偏振态 通道注意力机制 阈值分割算法
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