一种方便替换的测试用信号芯片结构

本实用新型公开了一种方便替换的测试用信号芯片结构，涉及电子测试设备技术领域，包括测试设备主体和嵌入槽：所述测试设备主体的内部开设有嵌入槽，所述嵌入槽的内侧固定有固定件。该方便替换的测试用信号芯片结构将信号芯片模块底角的卡勾嵌入测试设备主体内部开设的嵌入槽中，当卡勾外表面接触到嵌入槽内部设置的卡块，卡块随着卡勾的深入沿着固定件进行转动，随后，卡块与卡勾上的槽形成卡合连接，在需要对信号芯片模块进行拆卸更换时，通过手动向下抵接卡块斜表面，使得卡块向下转动，以便解除卡块与卡勾的卡合连接，进而实现对信号芯片模块的拆卸，以便工作人员能够快速对信号芯片模块进行更换，缩短操作时间，提升测试连续性。