一种LSI芯片封装结构的成形工艺

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一种LSI芯片封装结构的成形工艺
申请号:CN202510013854
申请日期:2025-01-06
公开号:CN119864287A
公开日期:2025-04-22
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种LSI芯片封装结构的成形工艺,属于半导体封装技术领域。其工艺如下:制作LSI芯片单体;制作带有低密度铜柱的第一假芯片单体;制作带有高密度铜柱的第二假芯片单体;LSI芯片单体、第一假芯片单体、第二假芯片单体依次正装到载体(400)并形成第一塑封体(301);通过减薄工艺,平行削减第一塑封体(301),其正面和背面分别形成第一再布线金属层(510)和第二再布线金属层(530)。本发明提供了多种金属柱结构密度集于一体的设计结构,满足产品多方位的设计需求。
技术关键词
LSI芯片 布线金属层 低密度 单体 高密度 SOC芯片 封装结构 成形 布线工艺 光刻胶 金属柱结构 正面 半导体封装技术 电镀 载体 包封 磨片 端口 剥离膜
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