摘要
本发明公开了一种LSI芯片封装结构的成形工艺,属于半导体封装技术领域。其工艺如下:制作LSI芯片单体;制作带有低密度铜柱的第一假芯片单体;制作带有高密度铜柱的第二假芯片单体;LSI芯片单体、第一假芯片单体、第二假芯片单体依次正装到载体(400)并形成第一塑封体(301);通过减薄工艺,平行削减第一塑封体(301),其正面和背面分别形成第一再布线金属层(510)和第二再布线金属层(530)。本发明提供了多种金属柱结构密度集于一体的设计结构,满足产品多方位的设计需求。
技术关键词
LSI芯片
布线金属层
低密度
单体
高密度
SOC芯片
封装结构
成形
布线工艺
光刻胶
金属柱结构
正面
半导体封装技术
电镀
载体
包封
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