烧录测试方法、装置、设备及计算机程序产品

本申请提供一种烧录测试方法、装置、设备及计算机程序产品，涉及测试技术领域，其中，该方法包括：获取芯片烧录测试信息，芯片烧录测试信息包括SN码范围和批次；对批次的芯片烧录SN码，并生成烧录日志，其中，SN码处于SN码阈值区间，烧录日志用于记录已烧录的SN码；在根据烧录日志确定各芯片的SN码未出现重复的情况下，确定批次的芯片烧录完成。本申请提供的技术方案可以提高烧录测试效率。