芯片测试探针组件

本实用新型涉及测试探针技术领域，公开了芯片测试探针组件，包括探针管，所述探针管的内部间隙配合有探针轴，探针管的内部设置有拆装组件，拆装组件包括开设在探针管外壁左右两侧的滑动槽，探针管外壁前后两侧均开设有解锁槽，解锁槽与滑动槽相连通，探针轴的外壁左右两侧均固定有联动块。本实用新型通过第一弹簧可以对探针轴向探针管开口的方向进行限制，并利用锁定架与联动块的配合，只有当锁定架与联动块克服第一弹簧的弹力并移动至解锁槽处，随后旋转探针轴使得联动块进入解锁槽内部才能完成对探针轴的拆卸，同时保证了探针轴与探针管的接触，保证电流的通过，保证了装置的可靠性。