一种存储芯片中稀疏失效单元的修复方法

本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种存储芯片中稀疏失效单元的修复方法，包括：步骤1：芯片测试机运行测试程序，获取存储芯片整体的失效单元电路信息；首先分配预设区域的失效单元电路的修复方案，并将剩余的稀疏失效单元电路存储到哈希表数据结构中；步骤2：获取步骤1中得到所有存储芯片的失效单元电路信息，构建失效单元集合的邻接矩阵；步骤3：根据步骤2得到的邻接矩阵，对失效单元电路分配修复方案；步骤4：重复步骤2‑步骤3，直至集合中所有数据被清空，获得整个存储芯片的修复方案。本发明可以使得备用电路的使用量能够得到有效减少，提高产品良率。