杂交仪温度检测方法、装置、电子设备及存储介质

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杂交仪温度检测方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202510023186
申请日期:2025-01-07
公开号:CN120005971A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明涉及杂交仪技术领域,公开了杂交仪温度检测方法、装置、电子设备及存储介质,包括获取杂交仪反应室中待测芯片的原始温度数据;基于原始温度数据判断加热装置是否稳定,并对原始温度数据进行预处理;若加热装置稳定,将预处理后的原始温度数据转换为摄氏度温度数据,并根据摄氏度温度数据确定目标拟合系数,以基于目标拟合系数确定目标摄氏度温度数据。本方法在采集到原始温度数据后通过预处理操作,去除可能存在的异常值对结果造成影响,实现对杂交仪反应室中待测芯片温度的精确测量和控制,提高了温度数据的准确性和可靠性,为后续的实验分析、结果报告以及温度控制策略的制定提供了有力支持。
技术关键词
温度检测方法 待测芯片 温度探头 加热 杂交仪技术 温度控制策略 数据输出模块 温度检测装置 可读存储介质 校正 数据获取模块 电子设备 存储器 处理器 指令 计算机设备
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