一种存储测试设备及测试方法

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一种存储测试设备及测试方法
申请号:CN202510026064
申请日期:2025-01-08
公开号:CN119446237B
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种存储测试设备及测试方法,包括现场留样模块,当存储固件运行出错时,现场留样模块中止存储固件的运行进程,其中现场留样模块启动时调用的程序文件为一级程序文件;打桩模块,在运行一级程序文件和一级程序的上级关联程序时,打桩模块启动并记录当前调用的程序文件信息,其中当前调用的程序文件为二级程序文件,多个二级程序文件的信息以环形数组的形式存储,其中在重新运行存储固件时,在运行二级程序文件和二级程序文件的上级关联文件时,启动打桩模块并获取新的二级程序文件;调用关联模块,调用关联模块建立并输出调用栈网络,调用栈网络包括全部二级程序文件,以及多个二级程序文件的调用关系。
技术关键词
固件 程序 调用关联模块 测试设备 关联文件 文件关联网络 测试机 存储数据类型 存储测试方法 闪存芯片 环形 关系 字典表 主机 进程
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