基于准概率分布的量子系统检测方法、装置、设备及存储介质

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基于准概率分布的量子系统检测方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510029840
申请日期:2025-01-08
公开号:CN120031151A
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于准概率分布的量子系统检测方法、装置、设备及存储介质,涉及量子信息和量子计算技术领域,包括:确定控制系统和辅助系统;根据所述控制系统的状态,确定待测量子系统和所述辅助系统的状态交换操作;对完成所述状态交换操作后的控制系统和辅助系统分别进行测量,得到所述控制系统和辅助系统的联合测量结果;基于所述联合测量结果,得到所述待测量子系统的准概率分布值;根据所述待测量子系统的准概率分布值,确定所述待测量子系统的状态检测结果。本申请通过利用准概率分布的测量策略,有针对性地设计算法获取待测量子系统的状态检测结果,降低了对待测量子系统检测所需的测量和时间成本。
技术关键词
辅助系统 子系统 系统检测方法 控制系统 量子态 系统检测设备 系统检测装置 量子计算技术 交换模块 处理器 可读存储介质 存储器 矩阵 密度 计算机 策略 算法
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