一种用于车规半导体芯片的检测设备及检测方法

本发明公开一种用于车规半导体芯片的检测设备及检测方法，涉及到芯片检测设备领域，其包括芯片检测机身，所述芯片检测机身的一侧转动安装有封闭门，所述芯片检测机身内活动安装有用于放置芯片的承载底座；所述承载底座上安装有芯片切换装置，所述芯片切换装置用于对不同种类的芯片进行切换。需要说明的是，在本发明实施例中，在检测时，通过承载架移动出承载底座，密封盖自动打开，使所需位置的芯片自动抬升进行测试，其他位置的芯片能够继续被密封盖进行隔离密封；同理，通过多个承载架的依次伸出，可以检测多种尺寸的芯片，有效地提高了检测效率，同时避免了芯片检测机身的多次启闭，对芯片检测机身内部环境造成影响的问题，保证检测的准确性。