一种高压二极管的封装结构及其封装工艺

AITNT
正文
推荐专利
一种高压二极管的封装结构及其封装工艺
申请号:CN202510036475
申请日期:2025-01-09
公开号:CN119965096A
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种高压二极管的封装结构及其封装工艺,该工艺包括以下步骤:芯片包封:将正面刷有胶层A的芯片放置在基板上,在基板上使用包封料包封芯片,研磨包封面直至暴露出胶层A的顶面,并在研磨面相应位置垂直钻孔;电性连接:在钻孔内电镀填充立柱A,并在研磨面水平平铺电镀设置布线层A,布线层A与芯片正面胶层A顶面接触,布线层A的一端与立柱A电性连接,在研磨面继续使用包封料包封立柱A和布线层A,包封料固化后从基板上剥离整体并上下翻转重新放置在基板上,芯片背面暴露;电性引出:在翻转后的包封面相应位置垂直钻孔,直至暴露出立柱A的顶部,本发明直接作用在芯片上的应力均匀,芯片寿命延长。
技术关键词
高压二极管 芯片 封装工艺 包封 封装结构 布线 立柱 电镀保护层 封面 正面 焊脚 钻孔 基板 封装体 导电胶 平铺 寿命延长 玻璃 电极
系统为您推荐了相关专利信息
1
业务集群的处理方法、装置、设备、介质及程序产品
网元设备 集群 异常信息 边界网关协议 中间层
2
微通孔阵列电极板及其制作方法、应用
阵列电极 细胞培养方法 通孔 气相沉积方法 金属阻挡层
3
一种低触发高维持电压的可控硅静电防护器件及其制作方法
可控硅静电防护器件 纵向PNP型三极管 NPN型三极管 栅极 MOS管阈值电压
4
SPI和GPIO混合模拟JTAG接口的方法、模拟的JTAG接口及测试设备
SPI接口 待测芯片 JTAG接口 GPIO接口 控制器
5
一种模拟电梯接地故障检验检测装置
检验检测装置 模拟电梯 电压检测仪 GPS定位模块 机械臂
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号