用于光刻系统的光刻校准设备、方法和光刻系统

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用于光刻系统的光刻校准设备、方法和光刻系统
申请号:CN202510039558
申请日期:2025-01-10
公开号:CN119828420A
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本申请涉及用于光刻系统的光刻校准设备、方法和光刻系统,其中,该光刻校准方法包括:校准物镜将第一散射光束准直为校准准直光束;其中,投影物镜将光源发射的待调制光束汇聚在散射介质上,经散射介质将待调制光束散射为第一散射光束;校准物镜与散射介质的距离为预设对焦距离;校准会聚透镜于将接收到的校准准直光束会聚为校准光束;校准相机接收校准光束并进行拍摄,得到校准图像;校准控制器根据校准图像生成散射介质传输矩阵,并基于散射介质传输矩阵,校准光刻系统。通过本申请,解决了如何在确保光刻图案达到高精度要求的同时,有降低其生产成本的问题,实现了低成本、高分辨率的光刻效果。
技术关键词
校准控制器 光束 校准设备 投影物镜 反射镜 介质 校准相机 参数优化模型 图像 校准光刻系统 晶圆载台 光源 能量控制 反射器 校准方法 矩阵
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