一种深冷设备的多测温点布置及测温方法

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一种深冷设备的多测温点布置及测温方法
申请号:CN202510043556
申请日期:2025-01-10
公开号:CN119880174A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本发明适用于深冷设备温度精准测量,具体涉及一种深冷设备的多测温点布置及测温方法。通过多个测温点的加权平均温度可以更精准的获取设备内温度情况,减小在极端工况下由温度不均匀产生的测温误差。步骤如下:1.根据有效空间初步均匀布置温度测点;2.通过实验或仿真采集温度数据;3.进行改进的Mini Batch k‑means聚类算法;4.确认的最佳聚类数目,得到不同的温度测点组合方案;5.选出误差平方和最小的温度测点组合作为多点测温的测温点布置方案;6.Critic权重法分别计算各温度测点权重系数;7.计算加权平均温度作为反馈温度。
技术关键词
深冷设备 加权平均温度 最佳聚类数目 测温热电阻 多点测温方法 温度变化规律 大型设备 数据 测温误差 轮廓系数 算法 壁面 指标 工况 鲁棒性 数值
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