高压加速老化试验箱防芯片样品凝露结构

本发明涉及老化试验箱技术领域，且公开了高压加速老化试验箱防芯片样品凝露结构，包括机架和装置外壳，所述装置外壳设置于机架的内侧，所述装置外壳的一侧为开口设置，所述开口的外侧相抵设置有盖板，所述盖板通过锁紧扣件与装置外壳固定连接，所述装置外壳的内部设置有样品支架，所述样品支架的上表面放置有芯片样品，所述样品支架的下侧设置有铜制冷端装置，所述铜制冷端装置的一端延伸至装置外壳的外部，所述装置外壳的内部且位于铜制冷端装置的下侧设置有加热器，所述加热器的上侧设置有导热筒，所述机架的内部一侧设置有旋转框。该高压加速老化试验箱防芯片样品凝露结构，能够有效避免了设备在升降温加湿过程中凝露对样品的影响。