一种基于图像特征的材料生长分析方法

本发明公开了一种基于图像特征的材料生长分析方法，包括：获取显微镜下纳米薄膜材料的生长情况并选取后期帧进行像素标注；使用树模型根据标注对关键帧进行像素分类并聚合，获取校正点、晶畴、液态生长中心的简化位置、形状信息；通过分析校正点的中心点坐标获取视频抖动校正矩阵并应用到晶畴边缘、液态生长核；对各个液态生长中心的坐标进行匹配获取不同路径的生长轨迹后进行滤波缓解部分异常、错误值干扰并绘制绘制液态生长中心轨迹以及晶畴掩膜图。本发明方法能够实时捕捉纳米薄膜材料液态生长过程中生长情况，为后续分析提供遍历。