用于相控阵芯片标定的矢量测量系统、方法及应用

本申请提供了一种用于相控阵芯片标定的矢量测量系统、方法及应用。所述矢量测量系统包括：频率输出装置，用于生成第一本振信号、第二本振信号和第三本振信号；太赫兹光源，用于接收第二本振信号并经过倍频放大后辐射太赫兹波；接收机，用于接收第三本振信号并经过倍频放大后作为第四本振信号，第四本振信号与太赫兹信号混频后产生中频信号；IQ解调器，用于接收中频信号和第一本振信号并进行解调，获取输出信号；吸波装置，设置于接收机和太赫兹光源之间，用于阻止未被调制的太赫兹波与太赫兹信号混叠并进入接收机。本申请的矢量测量系统设计更为简洁，可以有效避免信号混叠导致的测量误差。