基于高光谱成像的决明子真伪识别方法

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基于高光谱成像的决明子真伪识别方法
申请号:CN202510056606
申请日期:2025-01-14
公开号:CN119888358A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及检测识别技术领域,具体涉及基于高光谱成像的决明子真伪识别方法,包括以下步骤:S1,使用高光谱成像设备采集决明子样本的高光谱图像;S2,利用光谱基线校正方法校正高光谱图像的光谱漂移;S3,对校正后的光谱图像进行分割,区分决明子样本的目标区域与背景区域,结合分割结果提取决明子样本的有效光谱区域;S4,将与决明子化学成分相关的关键光谱特征和受干扰影响的冗余特征分离开;S5,基于LGBM算法训练真伪识别模型;S6,将待测决明子样本的关键光谱特征输入真伪识别模型,输出真伪识别结果。本发明,效剔除了环境光线变化、设备偏差及表面杂质等干扰因素,从而为真伪识别提供了高质量的输入数据。
技术关键词
真伪识别方法 决明子 联合稀疏编码 光谱基线校正方法 样本 高光谱成像设备 冗余特征 图像 矩阵 卷积神经网络提取 检测识别技术 曲线 像素 滑动窗口法 数据立方体 交叉验证法
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