用于曲面构件的阵列激发超声导波损伤定位方法

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用于曲面构件的阵列激发超声导波损伤定位方法
申请号:CN202510056973
申请日期:2025-01-14
公开号:CN119881109B
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种用于曲面构件的阵列激发超声导波损伤定位方法,属于异形构件无损检测技术领域,其包括:S1、制备损伤试样以及空白试样并分别布置导波激发阵列和传感器;S2、对损伤试样和空白试样分别进行超声信号的激发与接收;S3、提取损伤试样首达波时间窗信号,并分别提取信号的时频域参数及损伤试样信号与空白试样信号的相关系数ρl;S4、建立曲面构件任一位置P(x,y)与总和成像损伤概率Pr(x,y)的映射关系;S5、构建损伤距离识别分类模型;S6、计算各传感器散射延迟距离Lsca_b;S7、确定损伤可能区域;S8、建立损伤定位优化模型,预测损伤中心。基于上述步骤,本发明能够对复杂曲面构件的损伤进行精确定位。
技术关键词
损伤定位方法 超声导波 超声信号 损伤类别 曲面 传感器阵列 支持向量机分类算法 成像 参数 数据 样本类别标签 特征值 无损检测技术 压电换能器 异形构件
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