IC芯片测试系统和测试方法

本发明提供了一种IC芯片测试系统和测试方法，其中测试系统主要包括测试控制单元、测试管理单元和测试执行单元，测试控制单元与测试管理单元之间通过网络连接，测试管理单元与测试执行单元之间通过集线器连接；测试执行单元包括烧录器和被测设备，烧录器的输入端连接至集线器，烧录器的输出端连接至被测设备，被测设备集成有不同型号IC芯片的功能板，功能板搭载若干外设驱动硬件电路。本发明可缩短芯片选型和验证周期，降低人力成本及软硬件配套成本。