一种存储芯片的测试方法及测试装置

本发明提供一种存储芯片的测试方法及测试装置，属于存储技术领域。所述存储芯片的测试方法包括以下步骤：在存储芯片的存储位置中写入数据；对多个已写入数据的存储位置进行复写，形成多个数据坏块；对所述存储芯片进行全盘读取，获取所述数据坏块的地址和数量；对所述存储芯片进行垃圾回收；检测所述数据坏块上的有效数据是否被转移至备用闪存块，以及所述数据坏块是否被回收。通过本发明提供的一种存储芯片的测试方法及测试装置，提供一种增长坏块的测试方法。