一种存储芯片的测试方法及测试装置

本发明提供一种存储芯片的测试方法及测试装置，属于存储技术领域。所述存储芯片的测试方法包括以下步骤：向存储芯片发送多个读取命令；等待预设时间后，依照读取命令的顺序和循环次数执行一条读取命令；记录执行所述读取命令至反馈回传数据的时间间隔；判断所述时间间隔是否小于预设时间阈值，若所述时间间隔小于所述预设时间阈值，则循环执行向所述存储芯片发送多个读取命令，直至判断所述时间间隔是否小于预设时间阈值的过程，直至所述时间间隔大于或等于所述预设时间阈值，依据所述读取命令的顺序号获取所述存储芯片读缓存器的容量。通过本发明提供的存储芯片的测试方法及测试装置，可获取读缓存器的容量。