缺陷检测方法、设备及存储介质

本申请公开了一种缺陷检测方法、设备及存储介质，涉及图像处理技术领域，包括：采集待检测OLED膜的多张表面图像；通过预训练深度学习模型提取各表面图像在不同尺度下的特征，得到待检测OLED膜表面的特征图；基于预训练深度学习模型预测特征图的缺陷，得到待检测OLED膜表面的缺陷检测结果。本申请通过提取OLED膜表面图像的多尺度特征，以基于该多尺度特征构建包含有OLED膜表面图像不同尺度特征的特征图，避免了传统深度学习模型难以捕捉多尺度缺陷特征的问题，实现了能够适应OLED膜表面缺陷尺度多样性，从而实现了提高缺陷检测准确性和模型泛化能力的效果。