反对称手性超构表面及相位振幅调控的应用、验证方法

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反对称手性超构表面及相位振幅调控的应用、验证方法
申请号:CN202510076661
申请日期:2025-01-16
公开号:CN119620252B
公开日期:2025-07-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了反对称手性超构表面及相位振幅调控的应用、验证方法,属于微纳光学领域,包括由上到下依次设置的表层、中间层和背板层,表层由左半圆环和右半圆环组成,其中左半圆环朝向右半圆环的一侧的两端均朝向圆心的方向弯折形成第一凸起和第二凸起,右半圆环朝向左半圆环的一侧的其中一端向圆心的方向弯折形成第三凸起,第三凸起与第一凸起关于圆心对称布置,且第三凸起的长度等于第一凸起的长度,第一凸起的长度大于第二凸起的长度。采用上述反对称手性超构表面及相位振幅调控的应用、验证方法,通过打破C2(二阶旋转)对称性及镜像对称性,不仅可以通过手性相位实现自旋解耦合相位控制,还能利用圆二色性来调节反射波的幅度。
技术关键词
右旋圆偏振光 验证方法 线性相位梯度 电磁仿真 圆心 中间层 微纳光学 仿真分析 背板 仿真模型 参数 线偏振 三维模型 软件 矩阵 手性 幅值 镜像
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