回归测试方法及装置

本申请实施例提供了一种回归测试方法及装置，其中，该方法包括：从历史回归记录中确定出测试错误的错误用例；对所有错误用例进行排序，得到排序后的错误用例，其中，所述排序后的错误用例的错误用例信息至少包括以下之一：所述错误用例的用例名字，所述错误用例的种子号，所述错误用例的错误数量，所述错误用例的用例编号；使用所述错误用例信息生成新的回归测试序列，并在所述验证环境下利用所述新的回归测试序列进行回归测试。通过本申请，解决了相关技术中在芯片验证过程中，回归测试的效率低下的技术问题，进而提高了回归测试的效率。