基于多工位测试版的芯片自适应测试系统及装置

本发明公开了基于多工位测试版的芯片自适应测试系统及装置，涉及芯片测试技术领域。该方法包括以下步骤：通过多工位测试版对DRAM芯片进行测试；对多工位测试版对DRAM芯片进行测试的过程进行监控；通过监控获取芯片测试参数数据；根据芯片测试参数数据分析DRAM芯片的合格程度；将合格程度表示为不合格的DRAM芯片进行修复；根据DRAM芯片的合格程度将DRAM芯片进行等级划分。本发明通过根据芯片测试参数数据分析DRAM芯片的电压循环测试合格程度、SLT性能测试合格程度和老炼化测试合格程度，达到了准确高效地进行多工位芯片测试的效果，解决了现有技术中存在难以准确高效地进行多工位芯片测试的问题。