基于磁导率单负超材料的芯片电磁防护屏蔽隔膜

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基于磁导率单负超材料的芯片电磁防护屏蔽隔膜
申请号:CN202510085011
申请日期:2025-01-20
公开号:CN119993961A
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片电磁屏蔽技术领域,尤其涉及一种基于磁导率单负超材料的芯片电磁防护屏蔽隔膜,具有三层FR‑4介质层,相邻FR‑4介质层间添加有pp材料,其中排列有多组宽度渐变的开口谐振环,每组开口谐振环包括三个谐振单环,三个谐振单环按宽度大小依次排布并嵌入电阻,且在各谐振单环间添加有金属条带。本发明的屏蔽隔膜结构与传统电磁屏蔽结构如电磁带隙结构、类屏蔽材料屏蔽结构相比,有着剖面低,横向尺寸小,工作频段宽的特性,适用于小型化的芯片结构防护,能有效解决在小型隔室封装内产生的电磁干扰问题。
技术关键词
单负超材料 开口谐振环 单环 电阻 电磁带隙结构 电磁屏蔽结构 电磁屏蔽技术 隔膜结构 芯片结构 屏蔽材料 介质 条带 频段 尺寸
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