一种基于忆阻器阵列的存内计算系统精度评估方法及装置

本申请涉及半导体技术领域，提供了一种基于忆阻器阵列的存内计算系统精度评估方法及装置，通过建立用于评估所述存内计算系统计算精度的基线模型；基于所述基线模型得到所述忆阻器阵列的多个模型写入权重；将多个所述模型写入权重写入所述忆阻器阵列，得到存内计算模型；将初始输入输入所述基线模型，得到基线模型输出；将所述初始输入通过所述外围电路输入所述忆阻器阵列，得到存内计算输出；基于所述基线模型输出、及所述存内计算输出评估所述存内计算模型的计算精度，能够解决目前缺少对存内计算精度进行准确评估的方法，导致无法准确地设计存内计算芯片的问题，能够对存内计算的计算精度进行准确评估，从而为设计存内计算芯片提供依据。