一种可视化的多元芯片评测集成方法和装置

本申请提供了一种可视化的多元芯片评测集成方法和装置，属于芯片评测领域，该方法包括：通过构建统一的数据模型和操作接口，在芯片性能评测之后，将芯片信息、评测环境信息、测试用例信息、评测任务信息以及芯片性能评测结果进行整合、存储和管理；结合用户前端输入的基础信息，利用日志分析工具自动解析每个测试用例产生的评测日志数据，并根据每个测试用例的类型提取出相关指标；将芯片性能评测结果进行可视化展示，同时对评测任务之间的数据对比信息和评测任务产生的算子结果信息进行智能分析。本申请的技术方案提升了芯片评测效率和速度，提高了可视化处理和展示能力。