一种基于神经网络算法的芯片自动化测试方法

本发明提供一种基于神经网络算法的芯片自动化测试方法，涉及集成电路测试技术领域，其主要步骤为：将对芯片的测试项和测试条件作为神经网络的输入，将需调用的芯片测试系统的测试资源和测试行为作为神经网络的输出；将神经网络封装为芯片测试系统可以直接调用的模块；使用定义好的所述输入和输出对神经网络进行训练；将需正式测试的芯片接入所述芯片测试系统，芯片测试系统调用完成训练的神经网络，针对需进行的测试项和测试条件，调用对应的测试资源和测试行为，产生正式测试结果。本发明能够在传统的测试系统上调用神经网络算法，实现芯片测试的智能化。