一种测试设备的并行处理架构优化方法及系统

本发明公开了一种测试设备的并行处理架构优化方法及系统，涉及测试设备优化技术领域，方法包括：通过数据监控实时采集测试设备运行时的状态参数，对状态参数进行预处理，计算多维架构优化指数，设置优化目标函数和约束条件，构建多目标优化模型，根据预设的多目标优化算法对所述多目标优化模型进行优化，求解处理单元的资源分配，生成资源分配方案，应用于并行处理架构，实时调整资源分配，通过闭环反馈机制，持续监控测试设备的运行状态，动态调整优化策略，确保在不同条件下保持架构优化。通过计算多维架构优化指数并结合动态自适应优化机制，能够综合考虑测试设备的关键性能指标，实时调整资源分配方案，灵活应对复杂测试任务。