一种用于芯片测试的测试靠模测试方法、系统及终端

本发明涉及一种用于芯片测试的测试靠模测试方法、系统及终端，涉及工装的技术领域，其包括获取靠模测试块的顶部图像信息；根据顶部图像信息和预设的测试孔特征确定测试孔位置；控制预设的内夹持装置夹持于预设的连接端子内壁以夹取连接端子，将连接端子插入在靠模测试块的测试孔位置，并获取靠模底座的整体图像信息；根据整体图像信息和预设的测试槽特征确定测试槽特征位置；控制预设的吸盘装置将靠模测试块吸起并定位于测试槽特征位置以控制预设于测试槽内的射频探针与安装在靠模测试块上的连接端子对中抵接。通过设置一块模拟待测芯片的测试点排布的靠模测试块辅助进行测试，提高了对测试靠模的测试效率。