一种存储装置的测试系统及其测试方法

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一种存储装置的测试系统及其测试方法
申请号:CN202510097261
申请日期:2025-01-22
公开号:CN119541608B
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种存储装置的测试系统及其测试方法,涉及存储技术领域,包括:测试板,用以与待测存储器通信连接,以配置对应的测试参数;以及处理器,用以与所述测试板通信连接,且被配置为:在将消息数据写入至所述待测存储器后,使其生成发生不同读写校验错误的多个待测信息值,且再将各所述待测信息值依次写入至所述待测存储器中的重放保护内存块,以进行将各所述待测信息值至所述待测存储器的读写测试,得到测试结果。本发明提供的存储装置的测试系统及其测试方法,可以应用于存储器固件RPMB处理流程开发阶段,系统与固件对测稳定性及兼容性,具有简单易操作,RPMB类型配置丰富,测试覆盖度高等优点。
技术关键词
存储装置 存储器 测试板 内存 测试方法 系统镜像文件 处理器 固件 存储芯片 参数 存储技术 消息 数据 机制 标识 模式 电压 速度
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