一种基于低温捕捉探针位置的晶圆测试台

本发明公开一种基于低温捕捉探针位置的晶圆测试台，包括底座，还包括晶圆组件，测试组件，摄像组件以及运动组件；所述底座顶部通过运动组件连接有所述晶圆组件，所述底座两侧对称所述晶圆组件设置有所述测试组件，所述晶圆组件后侧设置有所述摄像组件，所述测试组件通过外界温度变化调节输出位置，所述摄像组件通过动态捕捉所述测试组件的输出位置，通过驱动所述运动组件带动所述晶圆组件输出指定位置。