由模拟电路晶体管状态驱动的电路优化方法、设备及介质

本发明公开了一种由模拟电路晶体管状态驱动的电路优化方法、设备及介质。方法包括以下步骤：构建电路性能预测模型；确定电路性能指标目标值，将电路性能指标目标值输入电路性能预测模型，得到电路晶体管状态目标值；根据电路晶体管状态目标值，对电路进行差分进化，使得电路性能指标符合所确定的电路性能指标目标值。本发明所提供方法具有高度的自动化和智能化，减少了对人工经验的依赖，优化过程可以自适应不同的电路设计需求，提升设计效率。通过多阶段的优化策略，不仅使得晶体管的性能与设计目标最为接近，还能够根据实际性能指标进行精细调整，保证最终电路满足设计目标。