器件检测方法、装置、计算机设备、存储介质及程序产品

本发明涉及量子计算技术领域，公开了器件检测方法、装置、计算机设备、存储介质及程序产品，其中，器件检测方法包括：识别量子芯片的目标电路中的电子器件；基于所述电子器件的器件类型对所述电子器件进行分类，得到各个器件类型对应的器件集合；对相同或者不同的所述器件集合中的电子器件进行检测，得到重叠器件，并基于所述重叠器件确定目标器件，其中，所述重叠器件用于指示在所述量子芯片中部分区域存在相互覆盖的电子器件，所述目标器件为影响所述目标电路正常运行的电子器件。本发明实现了量子芯片中的器件重叠判断的自动化，满足了芯片设计过程中对于重叠判断的效率以及准确率的需求。