逻辑设计系统的健康监测方法、装置、设备及存储介质

本申请公开了一种逻辑设计系统的健康监测方法、装置、设备及存储介质，涉及集成电路领域，包括：运行采集到的系统上电时产生的激励数据，并将得到的运行结果与预设模拟结果进行对比，以得到相应的对比结果；若对比结果表征运行结果与预设模拟结果不一致，则基于对比结果统计运行错误数据，并生成与运行错误数据对应的错误码；将运行结果与错误码发送至上位机，以便上位机根据错误码以及运行结果确定错误来源以及故障等级，然后基于错误来源以及故障等级进行系统健康监测。这样一来，可以实现对芯片中产生错误的来源部位的定位以及对错误的故障等级的判断，进而通过错误来源以及所述故障等级进行系统健康监测。