一种芯片功耗的检测方法及系统

本申请涉及芯片功耗检测技术领域，提供了一种芯片功耗的检测方法及系统，包括通过红外热像仪获取目标芯片不同负载下的目标红外图像；计算不同负载下目标芯片对应的目标功耗值；将目标功耗值与标准功耗值进行第一对比，若差值超出第一预设范围，则判定目标芯片功耗异常；若差值在第一预设范围内，则将目标功耗值对应的目标红外图像与当前负载下的标准红外图像进行第二对比；若第二对比的结果为小于第一阈值，则基于每个像素点的温度梯度识别出异常区域，根据预设判断策略在异常区域上标记出异常结果。实现了加速芯片功耗检测流程，降低了成本，还增强了故障识别的能力，为芯片质量控制提供了有力支持。