一种基于随机一次性精修的自动化晶体结构精修分析方法及系统

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正文
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一种基于随机一次性精修的自动化晶体结构精修分析方法及系统
申请号:CN202510111067
申请日期:2025-01-23
公开号:CN120015200A
公开日期:2025-05-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于随机一次性精修的自动化晶体结构精修分析方法及系统,属于材料结构表征和X射线衍射技术领域。该方法结合了Python脚本自动化执行与随机一次性精修策略,大幅提升了工作效率,有效减少了手动操作带来的时间消耗和人为误差;通过引入随机变动作为精修参数,进行多轮一次性精修,该方法能够更全面地探索参数空间,从而找到更优的晶体结构模型;系统设计了数据获取、初始精修、随机变动精修及结果选择与评估等模块,实现了晶体结构分析的全程自动化,提高了分析的准确性和效率;此方法适用于多种晶体材料,只需其衍射图谱、仪器参数和结构参数,即可进行自动化精修,为科研和工业领域提供精准、高效的数据支持。
技术关键词
分析方法 因子 参数 晶体 材料结构表征 X射线衍射技术 结构模型数据 坐标 策略 全程自动化 可读存储介质 数据获取模块 软件 处理器 粉末 计算机设备 图谱 存储器
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