基于数字孪生模型的电子光栅质检评估方法

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正文
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基于数字孪生模型的电子光栅质检评估方法
申请号:CN202510111661
申请日期:2025-01-24
公开号:CN120008470B
公开日期:2025-09-09
类型:发明专利
摘要
本发明涉及质检评估技术领域,并具体公开了基于数字孪生模型的电子光栅质检评估方法,包括:将质检对象的实物扫描数据输入至数字化电子光栅测量系统,获得质检对象的所有分区检测结果;将质检对象的所有分区检测结果与质检对象的标准形态孪生模型进行整体对齐,获得每个分区检测结果的质检评估参考数据;将质检对象的每个分区检测结果与对应的质检评估参考数据进行对比,获得质检对象的质检评估结果;用以有效地提高质检的准确性、可靠性和效率,保障质检对象的质量。
技术关键词
数字孪生模型 对象 分区 光栅 电子 参数 形态 数据
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