芯片输出数据的采集方法、装置、电子设备及存储介质

本申请提供了芯片输出数据的采集方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域，其中，该方法包括：在预设时段内按照预设采样频率对多个芯片的输出信号同时进行采集，得到多组二进制数据流；对于目标组二进制数据流，按照预定算法确定目标组二进制数据流对应的目标比特流，其中，目标组二进制数据流是任一组二进制数据流，目标比特流包括与目标芯片的输出信号所对应的比特数据，目标比特流中的每个比特数据与目标芯片的输出信号中的一个方波信号对应；通过逆变换算法将目标比特流转换为目标字节数据，目标字节数据用于表示目标芯片的输出信号所对应的字节数据。实施本申请提供的技术方案，达到了提高芯片测试效率的效果。