芯片数据检查方法

本发明提供一种芯片数据检查方法，包括：将待测芯片依次经第一测试站点至第N测试站点进行测试；将待测芯片在各测试站点的测试记录和测试数据均上传至服务器；服务器与MES系统交互通信连接；根据MES系统记录的物料测试程式和测试机，自动获取服务器的数据；通过待测芯片的测试数量记录和测试数据对比，确保测试数据的完整性；对比多个测试站点的一次性密码、身份信息以及批次识别码的唯一性信息，如果存在差异，通过MES系统管控待测芯片。本发明通过测试记录和测试数据对比分析，并通过MES进行物料管控，确保芯片数据的完整性和可靠性；确保出货芯片都是多道测试的电性能和图像良品，降低客诉风险,进而增强产品的信赖性。