一种集成电路芯片检测工装

本发明涉及电子元件检测技术领域，具体是一种集成电路芯片检测工装，包括检测架体，所述检测架体上固定安装有芯片检测台，还包括：检测工位转换机构，所述检测工位转换机构分别与所述检测架体和芯片检测台相连接，其中，检测工位转换机构包括有驱动升降组件、探针检测组件、放置保护组件和检测放置部；所述驱动升降组件分别与所述检测架体和芯片检测台相连接，所述驱动升降组件上固定安装有芯片检测设备，所述芯片检测设备上固定安装有多个检测探针；本发明集成电路芯片检测工装，可保证后续与芯片上的引脚良好接触，有利于提高检测结果的精度，保证检测的质量，为工作人员提供了便利。