LCoS芯片的衍射效率测量装置

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LCoS芯片的衍射效率测量装置
申请号:CN202510116491
申请日期:2025-01-24
公开号:CN119574065B
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本申请提供LCoS芯片的衍射效率测量装置,涉及光通信技术领域。该装置包括:衍射光路模块、探测模块及处理模块;衍射光路模块,用于按照预设的衍射光路,将输入的光源信号反射至目标LCoS芯片,并由目标LCoS芯片上显示的不同周期的闪耀光栅对接收到的光源信号进行衍射,以产生不同周期的闪耀光栅对应的衍射光;探测模块,用于测量各周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度,并将各周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度发送至处理模块;处理模块,还用于根据各周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度,确定目标LCoS芯片的衍射效率,实现了同一角度下测量由目标LCoS芯片显示不同周期的闪耀光栅对应的衍射光的光信号强度,增加了测试的可靠性。
技术关键词
闪耀光栅 芯片 周期 灰阶 光学环形器 模块 光照强度传感器 偏振光 三端口 传输路径 安装底座 光通信技术 光源 表达式 信号 像素 图像 输入端
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