一种触摸屏性能质量检测分析方法及其系统

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一种触摸屏性能质量检测分析方法及其系统
申请号:CN202510120055
申请日期:2025-01-25
公开号:CN120066868A
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本发明涉及触摸屏性能质量检测技术领域,尤其涉及一种触摸屏性能质量检测分析方法及其系统,检测方法包括:获取预设的卸载操作模拟算法和触摸屏的测试数据;采用卸载操作模拟算法对所述触摸屏的测试数据进行处理,得到初步的数据清理结果;根据触摸屏的数据清理能力评估结果,提取数据残留特征;将所述数据残留特征输入预设的故障定位模型,得到数据残留的位置和类型信息;根据所述数据残留的位置和类型信息,生成故障定位报告;获取触摸屏在高温、潮湿、振动等极端条件下的环境适应性测试数据;根据所述环境适应性测试数据,构建环境适应性评估模型;采用所述环境适应性评估模型对不同环境下的数据残留情况进行预测,得到数据残留的变化趋势。
技术关键词
检测分析方法 故障定位模型 触摸屏测试 支持向量机算法 设备知识库 信号采集设备 风险评估模型 特征提取算法 故障诊断方法 报告 数据清理技术 规则推理方法 触摸屏环境 数据可视化技术 参数 模拟触摸屏 检测分析系统
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