一种基于识别模型的PCB生产线残缺检测分析方法及系统

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一种基于识别模型的PCB生产线残缺检测分析方法及系统
申请号:CN202510121325
申请日期:2025-01-26
公开号:CN119559173B
公开日期:2025-06-13
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于识别模型的PCB生产线残缺检测分析方法及系统,具体涉及PCB质量检测技术领域,用于解决现有技术中PCB残缺检测精度低、漏检率高的问题;通过对PCB板材全表面扫描,生成厚度分布图,采用阈值分割算法识别厚度不均区域并标记重点检测区域;通过历史生产数据分析,识别与工艺波动无关的潜在缺陷;调节光源偏振角分析反射率差异,结合材料微观结构识别隐匿性缺陷区域。将潜在缺陷与隐匿性缺陷区域的并集标记为疑似残缺区域,并依据质量标准分析其对PCB性能的影响,从而提升检测精度与全面性,实现PCB板材的高质量控制。
技术关键词
检测分析方法 阈值分割算法 PCB板材 材料微观结构 递归神经网络模型 反射率差异 分析模块 标记 扫描设备 检测分析系统 扫描模块 数据 动态 指数 识别模块 多角度 光源 数值
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