一种芯片的老化测试系统和老化测试的方法

本发明涉及芯片测试领域。一种芯片的老化测试系统，包括老化测试炉和老化板，所述老化板上设置有待测试的芯片，设置在所述老化测试炉内，老化板通过接口或电源线连接设置在所述老化测试炉外的芯片电源板，芯片电源板连接或设置有直流工作电源，芯片电源板和老化测试炉通过控制板连接控制中心。基于该系统的测试方法为，控制中心根据测试任务或测试工单，加载芯片测试参数；然后通过控制板启动老化测试炉，并监控老化测试炉的温度；当温度到达测试要求温度后，通过控制板控制对老化板上的待测试芯片进行供电，开始测试；测试时间到达后，控制老化测试炉降温到常温，测试结束。测试结束后，通过连接专业工具读取或验证芯片内容确认是否通过老化测试。