一种基于C2W键合的芯片中硅衬底去除方法

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一种基于C2W键合的芯片中硅衬底去除方法
申请号:CN202510124227
申请日期:2025-01-26
公开号:CN119987150A
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种基于C2W键合的芯片中硅衬底去除方法,属于电光调制器技术领域,包括在衬底上形成波导芯,并沉积第一钝化层,第一钝化层覆盖衬底和波导芯;在波导芯的两侧分别形成金属槽,在金属槽内形成金属电极;沉积第二钝化层,第二钝化层覆盖金属电极和第一钝化层;在金属电极的上方进行开孔,形成孔结构;在第二钝化层上方与金属电极相对应的区域形成保护层,保护层通过孔结构将金属电极覆盖;将第二钝化层上方与波导芯对应的区域与芯片进行键合;键合后去除芯片中的硅衬底;去除保护层。本申请的方案,缩短了器件制备时间,降低了成本。
技术关键词
金属电极 芯片 波导 硅衬底 电光调制器技术 孔结构 氧化硅 吡咯烷酮 药液 上沉积 丙酮 甲基
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