一种高速条件下的校验剔除装置及校验剔除方法

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一种高速条件下的校验剔除装置及校验剔除方法
申请号:CN202510125460
申请日期:2025-01-27
公开号:CN119565940B
公开日期:2025-06-03
类型:发明专利
摘要
本发明涉及智能制造技术领域,具体涉及一种高速条件下的校验剔除装置及校验剔除方法,装置包括:传送带、读码触发光电传感器、深度相机、读码器、剔除组件、剔除检测光电传感器、编码器和PLC;通过深度相机获取瓶盖的精准位置,并控制读码器对准瓶盖,确保二维码读取的准确性;通过引入振动传感器和光线传感器,用于检测环境振动和光照强度的变化,并通过PLC动态调整光电传感器灵敏度及剔除装置的触发延迟,实现了高速条件下的高精度二维码校验和不合格品精准剔除,显著提升了生产效率和产品质量。
技术关键词
检测光电传感器 剔除方法 读码器 深度相机 剔除装置 瓶盖 光线传感器 传送带 振动传感器 深度图 编码器 二维码 不合格品 水平误差 深度值 时间序列形式 信号延迟时间 动态预测模型 生成触发信号
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