时序检测电路、芯片、电子设备和时序检测方法

本申请关于一种时序检测电路、芯片、电子设备和时序检测方法，所述时序检测电路包括：信号产生模块，用于产生激励信号和分频时钟信号；延时模块，用于对激励信号进行延时处理，生成延时信号；信号检测模块，用于将分频时钟信号作为采样基准，对延时信号进行周期性检测，并根据检测结果生成用于表征延时信号时序状态的状态信号，以实现对芯片内部时序余量的实时监测，从而能够在时序风险出现之前及时发出告警，确保芯片的安全性。