一种基于YOLOv5的密封堵表面缺陷检测深度学习方法

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一种基于YOLOv5的密封堵表面缺陷检测深度学习方法
申请号:CN202510131166
申请日期:2025-02-06
公开号:CN120124697A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明涉及深度学习缺陷检测技术领域的一种基于YOLOv5的密封堵表面缺陷检测深度学习方法,包含以下步骤:S1、优化YOLOv5网络算法,在YOLOv5网络算法的骨干网络最后一层特征融合前加入注意力机制SE模块,在颈部网络两次上采样融合后均加入注意力机制CBAM模块;S2、采集密封堵不同缺陷类别并制作密封堵表面缺陷数据集;S3、通过密封堵表面缺陷数据集训练优化后的YOLOv5网络算法,得到用于密封堵表面缺陷检测的YOLOv5目标检测网络;该密封堵表面缺陷检测深度学习方法,目的在于实现精小型密封堵表面缺陷的快速、准确、高速检测。
技术关键词
表面缺陷检测 深度学习方法 算法 SAM模块 缺陷类别 特征金字塔网络 通道注意力机制 缺陷检测技术 全局平均池化 校正特征 特征提取网络 上采样 视觉装置 多层感知机 数据
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